AXTAL Crystal公司是德國的一家專注于石英水晶組件研發(fā)生產的企業(yè)，主要生產OCXO晶振，TCXO晶振，GHZ振蕩器，PLL振蕩器，太空水晶振蕩器，門控晶體振蕩器等頻率元件，差分LVDS振蕩器是其中一種，而且是AXTAL目前重點發(fā)展的模塊。以下是AXTAL晶振公司給出的，關于LVDS差分晶振的一些測試項目和處理資料。
1.ESD（靜電敏感器件）處理
晶體振蕩器是靜電敏感器件。直接接觸終端必須避免用手指。根據(jù)既定的ESD進行適當?shù)奶幚肀仨氉袷豂EC61340-5-1和EN100015-1中的處理規(guī)則由于內部電路的損壞導致振蕩器性能下降通過靜電。如果沒有另行說明，我們的振蕩器符合要求符合IEC61000-4-2的人體模型（HBM）
2.處理
處理過程中機械沖擊過大以及手動和自動必須避免組裝。如果振蕩器無意中掉落或否則受到強烈沖擊，應驗證電氣功能仍在規(guī)范范圍內。
3.電源
為了避免不受控制的電位，差分晶體振蕩器應該在之后才能上電所有終端都正確連接。“熱插件”已經進入了一個夾具必須避免連接供電。極性錯誤或電源電壓過高都可能導致永久性損壞振蕩器。
強烈建議添加一個或兩個最短的阻塞電容直流電源輸入（VCC）端子和地（GND）之間可能的接線振蕩器的終端。典型值為10nF（X7R）和100pF（C0G）。一個μF范圍內的額外大容量電容可插入電路板上的任何位置。良好的工程實踐是使用地面和電源電壓平面（多層）印刷電路板。如果振蕩器輸出信號的低相位噪聲是一個問題，必須特別小心選擇低噪聲，低雜散電源。以供參考測量強烈建議使用電池進行操作。
4.射頻輸出
RF輸出必須按指定的負載終止，如下所示。一個。正弦波輸出，Ω終端Ω終端應直接連接在RF輸出端終端或50Ω同軸電纜的末端。如果有多個連接（例如示波器或功率計和頻率如果需要，應使用50power的功率分配器或耦合器。為了準確測量幅度，必須確保輸入測試儀器的阻抗精確為Ω，VSWR在內指定的限制。對于某些示波器而言，情況并非如此頻率計數(shù)器。在這種情況下，應插入10dB衰減器儀器輸入。
單方波（邏輯）輸出一世。TTL輸出CL

I.TTL輸出

CL=5pF（扇出）。它包括探頭的輸入電容或示波器
II.（H）CMOS和LVCMOS輸出

CL=15pF或50pF，取決于規(guī)格。它包括輸入探頭或示波器的電容
C.兩個互補方波輸出

I.PECL輸出

II.LVDS輸出

注意：
同軸電纜，沒有以其標稱阻抗終止（通常50）會因兩個原因而導致輸出信號失真和性能下降原因阻抗不匹配會產生反射，導致反射失真波形。對于方波邏輯輸出，這種影響尤其顯著信號。
非端接同軸電纜的輸入阻抗約為每個100pF電表接地電容（只要電纜長度小于a四分之一波長）。此電容與輸入電容有關連接的設備（例如測試儀器）產生電容性過載條件，扭曲和退化輸出電壓。
5.電子頻率控制（EFC）
石英晶體振蕩器，提供電子頻率控制（EFC）的手段必須正確連接，以確保在標稱頻率范圍內運行規(guī)定的公差。在任何情況下都應該避免離開EFC（VC）輸入浮動。外部控制電壓如果EFC輸入由外部直流控制電壓供電，則必須小心，直接避免直流電源電流的接地回路在VC和地之間施加控制電壓（GND）振蕩器的終端。
注意：
EFC電源產生的噪聲可能會降低相位噪聲和抖動RF信號的性能。因此電池或超低噪音DC電源是精確相位噪聲和抖動測量所必需的。
b.外部電位計
如果外部電位器用于頻率控制，則其電阻應該低于EFC（VC）輸入的輸入阻抗因數(shù)至少五個。某些振蕩器（TCXO和OCXO）提供單獨的參考電壓輸出（VREF）端子，用于為頻率控制電位器供電。該參考電壓具有低噪聲，并且在整個溫度范圍內的穩(wěn)定性在制造過程中考慮溫度補償過程。連接方案如下所示。

必須選擇電位器RC的電阻值，即VREF輸出的最大允許電流消耗（通常<1mA）不是超標。強烈建議在VC輸入端進行額外的過濾。
6.頻率穩(wěn)定性隨溫度的測試
重要的定義
工作溫度范圍：
溫度范圍，振蕩器保持規(guī)格。
可操作的溫度范圍：
溫度范圍，其中振蕩器仍然會運行，但某些參數(shù)可能超過。
頻率溫度穩(wěn)定性：
振蕩器頻率的最大偏差，沒有參考暗示，超過標稱電源和負載條件下的工作溫度范圍條件不變。
f-T穩(wěn)定性=±（fmax-fmin）/（fmax+fmin）
初始頻率-溫度精度：
振蕩器頻率的最大偏差是指標稱頻率在額定電源和負載條件下的工作溫度范圍內，其他條件不變。
f-T精度=±MAX[fmax，fmin]，
其中fmax=|（fmax-fnom）/fnom|
fmin=|（fmin-fnom）/fnom|
注意：對于SPXO晶振和VCXO晶振，有時頻率為參考溫度fref（25°C）用作參考而不是fnom。
測試程序：
未通電的振蕩器應放置在溫度室中連接到指定的負載。對于VCXO，VC-TCXO和VC-OCXO的頻率控制電壓VC應根據(jù)規(guī)范設定。必須確保這一點VC在溫度測試期間保持不變。然后指定供電電壓應適用。振蕩器應經受2m/s至3m/s的適度空氣循環(huán)。這是對于測量OCXO尤為重要。如果在靜止空氣中測量溫度如果腔室，內部烤箱的控制可能不再正常工作溫度接近工作溫度范圍的上限。SPXO晶振和VCXO的溫度斜率應小于5K/min，小于OCXO為1K/min，熱質量較高的設備為1K/min。房間應該是允許通過適當?shù)慕輹r間穩(wěn)定在指定的溫度。該輸出頻率（和幅度）的測量應足夠達到熱平衡后的準確度和分辨率。
7.相位噪聲測試
必須采取一些預防措施才能獲得準確的結果。
a.電源電壓必須具有低噪聲。開關電源裝置（PSU）應該避免。建議使用電池供電。高電容建議使用>100μF的隔直電容。
b.電子頻率控制（EFC）輸入對噪聲非常敏感直接調制晶體振蕩器級。因此控制電壓（VC）必須來自極低噪聲的直流電源，最好是一個電池。一些相位噪聲測試儀器提供合適的信號源。控制電壓應通過屏蔽（同軸）電纜連接。如果振蕩器包含參考電壓（VREF）輸出，則它是高度的建議根據(jù)此推導出控制電壓第5b段所示的電路。或者，VC輸入可以連接到接地引腳。
c.為避免干擾環(huán)境的虛假響應，它是建議將被測設備（DUT）放入電磁屏蔽柜。
d.由于其固有的壓電性，差分晶振中的晶體單元是對任何機械振動都非常敏感。因此振蕩器下測試不應與測試設備放在同一張桌子上風扇和變壓器引起的振動。即如果必須測量非常低的本底噪聲水平，則必須小心測試儀器的本底噪聲足夠低并且數(shù)量很少相關性足夠高（在互相關測試模式中）。
8.短期穩(wěn)定性測試
建議的短期穩(wěn)定性措施是所謂的AllanDeviation（ADEV）或重疊的艾倫偏差（OADEAV）。使用現(xiàn)代高分辨率計數(shù)器可能會導致錯誤的結果，因為內部插值過程必須采取以下預防措施以避免干擾和觸發(fā)錯誤：
-在測試設置中避免接地回路
-使用相穩(wěn)定布線
-測得的信號必須具有快速上升和衰減時間，并且抖動較低通過方波產生的滯后和滯后。
-對于電源電壓和控制電壓，必須考慮相同的因素相位噪聲測量應考慮在內（見第7段）。
-環(huán)境溫度必須盡可能穩(wěn)定。隔熱隔熱強烈建議環(huán)境和氣流。聲學噪音和必須嚴格避免振動。
-萬一需要對被測振蕩器進行電磁屏蔽振蕩器的電磁靈敏度更高。
在計算分析之前，應檢查數(shù)據(jù)集的一致性。如果是，則應識別并移除異常值，即相位或頻率跳躍確切地說，這些是由外部影響造成的，并非源于信號發(fā)生器。在開始數(shù)據(jù)采集之前，有源晶體振蕩器必須連續(xù)工作在更長的穩(wěn)定時間。溫度穩(wěn)定振蕩器（OCXO）需要a穩(wěn)定時間比其他振蕩器類型（SPXO，VCXO和TCXO）長。根據(jù)經驗，穩(wěn)定的標準值應不小于12小時，作為參考測量，應該穩(wěn)定被測振蕩器至少24小時。
9.頻率老化測試
振蕩器應保持在規(guī)定的溫度，容差和穩(wěn)定連續(xù)30天。插入烤箱后，振蕩器應與室內空氣溫度平衡。然后在開始振蕩器之前，振蕩器應通電并穩(wěn)定1小時測量采集周期。振蕩器的初始頻率應為在穩(wěn)定期（1小時）后立即測量，然后在間隔時間不超過72小時（每間最多間隔96小時除外）允許30天的時間）至少30天。老化溫度應為+70°C或最高規(guī)定的操作溫度，以較低者為準。
插入烘箱后，晶體振蕩器應穩(wěn)定老化開始測量采集前48小時的溫度（除非另有規(guī)定）。每個單元的頻率應在緊接著之后進行測量穩(wěn)定期，然后每周最少四次，間隔為至少20個小時。
a.非溫穩(wěn)定振蕩器的老化試驗
-開機至少一小時。
-初始測量參考溫度下的頻率，例如25°C。
-在Toven的烤箱中存放Toven，例如85°C或TBD但不高于最高可操作溫度。
-1,2,5,10,20天后的中間測量。
-測量時，將振蕩器從烤箱中取出，然后存放在室內溫度保持1小時，以避免溫度沖擊
-測量參考溫度下的頻率
-頻率@參考溫度30天后的最終測量灣OCXO的老化測試
-OCXO保持室溫
-通電至少兩小時。
-每周5次頻率的中間測量（AXTAL：一次每隔一小時）。
-30天后的最終頻率測量。
-從第3天開始的數(shù)據(jù)擬合和評估。獲得的測量值應使用最小二乘法的方法擬合
以下公式：
-每天老化（老化率）=f（d0+1）-f（d0）
-每月老齡化=f（d0+30）-f（d0）
-每年的老齡化=f（d0+365）-f（d0），其中f（t）是老化近似值a）或b）之一，擬合參數(shù)a0，a1，a2和d0是老化測試的最后一天加上30天。
注意：
代替頻率f（以Hz為單位）通常使用相對頻率（以ppm或ppb為單位）。
10.根據(jù)MIL-PRF-55310進行篩選
對高可靠性振蕩器進行100％篩選測試。為了高可靠性空間應用應用篩選等級S，以獲得其他高可靠性應用篩選級別B。適用于1類振蕩器（分立技術）和3類振蕩器（混合技術）篩選程序包括以下步驟：

LVDS振蕩器是差分晶振的一種，應用的意義和范圍比較大，是現(xiàn)代化科技發(fā)展，工業(yè)發(fā)展當中，不可缺少的一種頻率元件，德國AXTAL晶振公司是量產LVDS系列產品的佼佼者，產品可通過金洛鑫電子訂購，咨詢熱線：0755-27837162。

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